Investigation of the IGBT’s and Diode’s Ruggedness Under Short-Circuit Type III Conditions Well Beyond the SOA

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标题	Investigation of the IGBT’s and Diode’s Ruggedness Under Short-Circuit Type III Conditions Well Beyond the SOA
网址	https://ieeexplore.ieee.org/document/10173401
DOI	10.30420/566091305 doi
求助人	Rex 在 2025-11-24 22:56:04 发布自中国台湾，悬赏 10 积分
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