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 Light and elevated temperature induced degradation in gallium- and boron-doped hpmc-Si wafers studied by hyperspectral photoluminescence imaging 用高光谱光致发光成像研究镓和硼掺杂hpmc-Si晶片的光和高温诱导降解
相关领域
光致发光
高光谱成像
薄脆饼
镓
降级（电信）
材料科学
兴奋剂
硼
光电子学
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化学
电子工程
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计算机科学
工程类
人工智能
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期刊：AIP conference proceedings 作者：Torbjørn Mehl; Oda Goa Berge; I. Burud; Rune Søndenå; Espen Olsen 出版日期：2023-01-01 |
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