| 标题 |
Experimental Quantum Error Correction below the Surface Code Threshold via All-Microwave Leakage Suppression 基于全微波泄漏抑制的表面码阈值以下量子纠错实验
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Physical Review Letters 作者:Tan He; W. W. Lin; R. N. Wang; Yuan Li; Jiahao Bei; et al 出版日期:2025-12-22 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|