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  Rapid cryogenic characterization of 1,024 integrated silicon quantum dot devices 1024集成硅量子点器件的快速低温表征
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期刊：Nature electronics 作者：Edward J. Thomas; Virginia N. Ciriano-Tejel; David F. Wise; Domenic Prete; Mathieu de Kruijf; et al 出版日期：2025-01-03 |
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