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 Effect of Thermal Annealing on the Structural and Electrical Properties of Hafnium Oxide Films 相关领域
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期刊：Physics of the Solid State 作者：A. V. Pavlikov; I. D. Kuchumov; M. N. Martyshov; Д. М. Жигунов; A. S. Ilin; et al 出版日期：2024-12-01 |
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