Monolithic 3D Integrated BEOL Dual-Port Ferroelectric FET to Break the Tradeoff Between the Memory Window and the Ferroelectric Thickness

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标题	Monolithic 3D Integrated BEOL Dual-Port Ferroelectric FET to Break the Tradeoff Between the Memory Window and the Ferroelectric Thickness
网址	https://doi.org/10.1109/IRPS48203.2023.10118286
DOI	10.1109/IRPS48203.2023.10118286 doi
其它	期刊：2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：Om Prakash; Kai Ni; Hussam Amrouch 出版日期：2023
求助人	zaezae 在 2026-06-24 15:45:00 发布自上海，悬赏 10 积分
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