Low voltage stress-induced leakage current as a probe of interface defects and a monitor of the oxide reliability

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标题	Low voltage stress-induced leakage current as a probe of interface defects and a monitor of the oxide reliability
网址	https://validate.perfdrive.com/fb803c746e9148689b3984a31fccd...
DOI	10.1088/0268-1242/20/11/003 doi
其它	期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Y. Yu; Q. Guo; X. Zeng; H. Li; S. H. Liu; et al 出版日期：2005-11-01
求助人	gogoer 在 2026-08-12 15:37:05 发布自江苏，悬赏 10 积分
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