| 标题 |
Experimental Investigation on the Electrical Properties of a-InGaZnO Thin-Film Transistors Under Total Dose Ionizing Radiation |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Guangan Yang; Geng Huang; Hong Zhu; Haotian Wu; Tianzhen Li; et al 出版日期:2025-03-01 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)