| 标题 |
Formation mechanisms of low-density C-related defects in homoepitaxy 3C-SiC MOS capacitors compared with 4H-SiC 同质外延3C-SiC MOS电容器与4H-SiC低密度C相关缺陷形成机制的比较
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Zheng Hu; Yidan Tang; Huaping Song; Xinhua Wang; Junwei Yang; et al 出版日期:2025-11-12 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)