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 Frequency dispersion and dielectric relaxation of La2Hf2O7 相关领域
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期刊：Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena 作者：Chengzhi Zhao; S. Taylor; M. Werner; Paul R. Chalker; Jeffrey M. Gaskell; et al 出版日期：2009-01-01 |
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