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Study of the mechanism of single event burnout in lateral depletion-mode Ga2O3 MOSFET devices via TCAD simulation 横向耗尽型Ga2O3 MOSFET器件单层烧毁机理的TCAD模拟研究
相关领域
MOSFET
机制(生物学)
材料科学
光电子学
计算机科学
工程物理
电子工程
物理
工程类
电气工程
晶体管
电压
量子力学
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Wang Ke-jia; Zujun Wang; Rongxing Cao; Hanxun Liu; Wenjing Chang; et al 出版日期:2024-04-08 |
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