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 Super‐Resolution Microscopy for Precision Microsphere Defect Inspection Using Sparrow‐Optimized Autocorrelation Deconvolution 相关领域
反褶积
自相关
光学
分辨率（逻辑）
材料科学
人工智能
显微镜
计算机视觉
表面粗糙度
图像分辨率
迭代重建
计算机科学
准确度和精密度
自动对焦
图像质量
加速度
傅里叶变换
成像体模
帧（网络）
图像处理
能量（信号处理）
表面光洁度
曲面重建
点扩散函数
测距
重建算法
图像复原
快速傅里叶变换
超短脉冲
盲反褶积
像素
互相关
时间分辨率
曲面（拓扑）
卷积（计算机科学）
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期刊：Annals of the New York Academy of Sciences 作者：Tao He; Jiaxin Yu; Liwei Ou; Qingjie Zheng; Jiahao Ye; et al 出版日期：2026-04-01 |
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(2025-6-4)
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