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WaNSC-Net: Wavelet-Enhanced and Normal-Sample-Calibrated Network for Few-Shot Industrial Surface Defect Segmentation |
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期刊:IEEE Sensors Journal 作者:Yaoyi Cai; Dinglei Xu; Dingjia Huang; Zekai Yao; Xiao Liu; et al 出版日期:2026-09-24 |
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(2025-6-4)