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![]() 通过瞬态测量提取无结晶体管中的界面陷阱密度
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期刊:Solid-State Electronics 作者:Ewerton Teixeira da Fonte; Renan Trevisoli; Sylvain Barraud; Rodrigo T. Doria 出版日期:2022-04-07 |
求助人 |
Tina
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2025-08-30 15:31:09 发布,悬赏 10 积分
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