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 Reliability Properties of Low-Voltage Ferroelectric Capacitors and Memory Arrays 低压铁电电容器和存储器阵列的可靠性特性
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：J. Antonio Travieso-Rodríguez; K. Remack; K. Boku; K. R. Udayakumar; S. Aggarwal; et al 出版日期：2004-09-01 |
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