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 Unveiling the Carrier Dynamics and Trapping Behavior in High‐performance MoS 2 Photodetector via Screening Interface Impurity 相关领域
俘获
材料科学
光电探测器
光电子学
光电流
杂质
半导体
晶体管
载流子寿命
存水弯（水管）
场效应晶体管
动力学
载流子
钝化
分子物理学
暗电流
化学物理
免费承运人
超短脉冲
吸附
消灭
动能
化学
时间常数
表面状态
原子物理学
重组
半导体器件
光电导性
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期刊：Advanced Materials Technologies 作者：Yuhang Xu; Yuxin Wang; Carmela D. Tan; Guohua Hu; Z. X. Wang 出版日期：2026-01-31 |
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