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Direct observation of stacking fault shrinkage in 4H-SiC at high temperatures by in-situ X-ray topography using monochromatic synchrotron radiation |
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Fumihiro Fujie; Shunta Harada; Haruhiko Koizumi; Kenta Murayama; Kenji Hanada; et al 出版日期:2018-07-03 |
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