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Understanding charge trapping/detrapping at the zinc oxide (ZnO)/MAPbI3 perovskite interface in the dark and under illumination using a ZnO/perovskite/ZnO test platform |
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期刊:Nanoscale 作者:Youngjun Kim; Byoungnam Park 出版日期:2018 |
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(2025-6-4)