| 标题 |
 Study on formation mechanism of different differential resistance branches at avalanche breakdown curve of SGT-MOSFET 相关领域
雪崩击穿
稳健性（进化）
晶体管
MOSFET
二极管
差速器（机械装置）
材料科学
功率半导体器件
雪崩二极管
光电子学
击穿电压
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Le Su; Cailin Wang; Wuhua Yang; Chao Zhang 出版日期：2023-03-06 |
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