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 Investigation of the Off-State Degradation in Advanced FinFET Technology—Part II: Compact Aging Model and Impact on Circuits 先进FinFET技术中关态退化的研究。第二部分：紧凑老化模型及其对电路的影响
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Zixuan Sun; Zirui Wang; Runsheng Wang; Lining Zhang; Jiayang Zhang; et al 出版日期：2023-02-02 |
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