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In Situ GaN Passivation p-GaN Gate HEMT With Synchronously Improved Baliga’s Figure-of-Merit and Superior Dynamic R ON Robustness |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Cheng Yu; Wanjun Chen; Guojian Ding; Fangzhou Wang; Zhuocheng Wang; et al 出版日期:2025-09-02 |
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(2025-6-4)