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Distortion-corrected Fourier ellipsometry for thin-film characterization on tilted and curved optical surfaces |
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期刊:Optics & Laser Technology 作者:Tian-Qi Jia; Li-Hua Peng; Jian Wang; Qi Xu; Rong Su; et al 出版日期:2026-12-01 |
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(2025-6-4)