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 Switching mechanism transition induced by annealing treatment in nonvolatile Cu/ZnO/Cu/ZnO/Pt resistive memory: From carrier trapping/detrapping to electrochemical metallization 非易失性Cu/ZnO/Cu/ZnO/Pt电阻存储器中退火处理诱导的开关机制转变：从载流子俘获/脱俘获到电化学金属化
相关领域
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X射线光电子能谱
俘获
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期刊：Journal of applied physics 作者：Yuchao Yang; Feng Pan; Fei Zeng; M. Liu 出版日期：2009-12-15 |
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