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Dynamic R$_{ON}$ in Short-Loop Processed AlGaN/GaN Devices: Impact of Layer Thickness |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Hyun-Seop Kim; M. Uren; Chaowang Liu; Andrew Withey; Robert Harper; et al 出版日期:2026-07-01 |
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(2025-6-4)