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 Reliability investigation of repeated unclamped inductive switching in a diode-clamped SiC circuit breaker 二极管钳位SiC断路器重复无钳位感应开关的可靠性研究
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Taro Takamori; Keiji Wãda; Wataru Saito; Shin–ichi Nishizawa 出版日期：2023-09-30 |
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