Analysis on BVDSS Outlier Chips and Screening Technology for 1.2 kV Automotive SiC MOSFETs

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标题	Analysis on BVDSS Outlier Chips and Screening Technology for 1.2 kV Automotive SiC MOSFETs 1.2 kV车用SiC MOSFET BVDSS离群芯片及筛选技术分析相关领域汽车工业离群值异常检测计算机科学汽车电子汽车工程工程类数据挖掘人工智能航空航天工程
网址	https://doi.org/10.23919/ispsd62843.2025.11117452
DOI	10.23919/ispsd62843.2025.11117452 doi
其它	期刊：作者：YU Jin-ying; Jingjing Cui; Bao Hu; Jie Deng; Bao Yuan 出版日期：2025-06-01
求助人	momo19 在 2025-09-21 16:24:03 发布自越南，悬赏 10 积分
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