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![]() 1.2 kV车用SiC MOSFET BVDSS离群芯片及筛选技术分析
相关领域
汽车工业
离群值
异常检测
计算机科学
汽车电子
汽车工程
工程类
数据挖掘
人工智能
航空航天工程
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期刊: 作者:YU Jin-ying; Jingjing Cui; Bao Hu; Jie Deng; Bao Yuan 出版日期:2025-06-01 |
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