| 标题 |
 Comparative X-ray Diffractometry of the Defect Structure of ZnO Epitaxial Films Deposited by Magnetron Sputtering on C-Plane Al2O3 Substrates in Inhomogeneous Electric Field 非均匀电场下C面Al2O3衬底磁控溅射ZnO外延膜缺陷结构的比较X射线衍射
相关领域
外延
蓝宝石
材料科学
溅射沉积
电场
腔磁控管
巴（单位）
结晶学
溅射
薄膜
凝聚态物理
光电子学
光学
化学
纳米技术
图层（电子）
物理
气象学
量子力学
激光器
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Crystallography Reports 作者：Yu. A. Volkovsky; V. A. Zhernova; M. S. Folomeshkin; П. А. Просеков; А. Э. Муслимов; et al 出版日期：2023-04-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
秋风
DW
无极微光
aajhajkahna
aaaKumaINmyMIND
健健康康的生活
共产主义战士
科研狗
学霸业
谢雷XIELei
林狗
YY
学术文献互助
Enigma_GEB
Dean
aaaa
GingerF
lalala
wangyumumu
寒2026
皖公网安备34019202002308
