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![]() 用Kelvin探针力显微镜分辨Ge/MoS2异质结构的表面电位变化
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期刊:AIP Advances 作者:Sanguk Woo; Jinkyoung Yoo; David Magginetti; Ismail Bilgin; Swastik Kar; et al 出版日期:2021-12-01 |
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