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Measurement of thickness and refractive index of Zn1-xMgxO film grown on sapphire substrate by molecular beam epitaxy 相关领域
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期刊:Acta Physica Sinica 作者:Yan Feng-Ping; Zheng Kai; Lin Wang; Li Yi-Fan; Taorong Gong; et al 出版日期:2007-01-01 |
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