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 A Near-Threshold Voltage Oriented Digital Cell Library for High-Energy Efficiency and Optimized Performance in 65nm CMOS Process 面向近阈值电压的数字单元库，用于65nm CMOS工艺中的高能效和优化性能
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期刊：IEEE Transactions on Circuits and Systems I Regular Papers 作者：Jaehun Jun; Jaegeun Song; Chulwoo Kim 出版日期：2017-10-30 |
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