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Analysis of Grain Boundary Effects Based on Location in a Diode-Type NAND Flash Memory Cell |
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期刊:2025 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW) 作者:Jinsu Kim; Hansol Kim; Hojin Moon; Wonjun Song; Jong-Ho Bae; et al 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)