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 Impact of Creep and Softening Mechanisms on the Contact Resistance of RF MEMS Ohmic Switches: Study of the Current and Time Effects on Au-to-Au Microcontacts in Static Contact Conditions 相关领域
接触电阻
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期刊： 作者：F. Souchon; Alexis Peschot; P.L. Charvet; Christophe Poulain 出版日期：2010-10-01 |
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