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Signal Integrity Design and Analysis of Universal Chiplet Interconnect Express (UCIe) Channel in Silicon Interposer for Advanced Package
高级封装硅内插器中UCIe通道的信号完整性设计与分析
相关领域
中间层
信号完整性
互连
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硅
通过硅通孔
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期刊: 作者:Taein Shin; Keunwoo Kim; HyunWook Park; Boogyo Sim; Seongguk Kim; et al 出版日期:2023-12-12 |
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