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  Near-edge x-ray absorption fine structure measurements using a laboratory-scale XUV source 相关领域
极端紫外线
吸收（声学）
吸收边
材料科学
GSM演进的增强数据速率
光学
物理
光电子学
激光器
计算机科学
电信
带隙
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期刊：Journal of Physics D: Applied Physics 作者：Christian Peth; Frank Barkusky; Klaus Mann 出版日期：2008-04-09 |
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