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[高分]
![]() 使用离子水结构化来解决湿HF基氧化物凹槽蚀刻中的图案负载
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期刊:Microelectronic Engineering 作者:Guy Vereecke; Hanne De Coster; Denis Dochain; Kunsulu Nurekeyeva; Shona Conlan; et al 出版日期:2023-06-26 |
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