| 标题 |
 Quantum Mechanical Connection of Schottky Emission Process and Its implications on Breakdown Methodology and Conduction Modeling for BEOL Low-k Dielectrics 肖特基发射过程的量子力学连接及其对BEOL低k电介质击穿方法和导电模型的影响
相关领域
电介质
肖特基势垒
肖特基二极管
材料科学
光电子学
可靠性（半导体）
肖特基效应
凝聚态物理
电气工程
电子工程
物理
工程类
量子力学
二极管
功率（物理）
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：Ernest Y. Wu; Baozhen Li 出版日期：2022-03-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
科研助手6
SYLH
昏睡的蟠桃
nozero
cdercder
卡卡西
猪猪hero
带头大哥
妞妞公主喜欢派大星
彭于彦祖
pcr163
Billy
HEIKU
HEAUBOOK
子车茗
平常的毛豆
iNk
Singularity
冰魂
迷人秋烟
皖公网安备34019202002308
