| 标题 |
Defects inspection of the solder bumps using self reference technology in active thermography 相关领域
热成像
发射率
焊接
材料科学
红外线的
无损检测
特征(语言学)
GSM演进的增强数据速率
热的
光学
声学
计算机科学
复合材料
人工智能
气象学
哲学
放射科
物理
医学
语言学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Infrared Physics & Technology 作者:Xiangning Lu; Tielin Shi; Jiguang Han; Guanglan Liao; Lei Su; et al 出版日期:2014-01-03 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)