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Bias-Insensitive High Linearity of N-Polar Deep Recess GaN HEMTs With Regrown GaN Cap 相关领域
材料科学
光电子学
晶体管
宽禁带半导体
线性
氮化镓
功勋
肖特基二极管
高电子迁移率晶体管
泄漏(经济)
电容
肖特基势垒
图层(电子)
截止频率
无线电频率
逻辑门
场效应晶体管
错配
砷化镓
蚀刻(微加工)
氮化物
薄板电阻
电流(流体)
噪声系数
MOSFET
电子迁移率
碳化硅
温度测量
电气工程
阻挡层
噪声测量
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| 其它 |
期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Boyu Wang; Emre Akso; Henry Collins; Vineeta Muthuraj; Kamruzzaman Khan; et al 出版日期:2026-01-21 |
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