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标题
Line-edge-roughness transfer during plasma etching: modeling approaches and comparison with experimental results
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DOI
10.1117/1.3268365 doi
其它 期刊:Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS
作者:Vassilios Constantoudis
出版日期:2009-10-01
求助人
cyyan 在 2026-09-10 14:22:23 发布自上海,悬赏 20 积分
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