Deep Learning-Based Wafer-Map Failure Pattern Recognition Framework

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标题	Deep Learning-Based Wafer-Map Failure Pattern Recognition Framework
网址	http://dx.doi.org/10.1109/isqed.2019.8697407
DOI	10.1109/isqed.2019.8697407 doi
其它	期刊：20th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) 作者：Tsutomu Ishida; Izumi Nitta; Daisuke Fukuda; Yuzi Kanazawa 出版日期：2019-03-01
求助人	rzy66 在 2026-08-13 16:42:07 发布自河北，悬赏 10 积分
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