| 标题 |
The role of the HfO2–TiN interface in capacitance–voltage nonlinearity of Metal-Insulator-Metal capacitors |
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| DOI |
10.1016/j.tsf.2009.02.074
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期刊:Thin Solid Films 作者:Ch. Wenger; M. Lukosius; G. Weidner; H.-J. Müssig; S. Pasko; Ch. Lohe 出版日期:2009 |
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(2025-6-4)