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 Physics-Informed Neural Network for Real-Time Imaging and Evaluation of Defect Based on High-Definition ACFM Probe 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Xin’an Yuan; Jianxi Ding; Jian Pang; Wei Li; Xiaokang Yin; et al 出版日期：2025-11-13 |
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