| 标题 |
Reliability Characteristics of a High Density Metal- Insulator-Metal Capacitor on Intel’s 10+ Process |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:C.-Y. Lin; U. E. Avci; M. A. Blount; R. Grover; J. Hicks; et al 出版日期:2020-04-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)