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  Model-Based XPS Technique for Characterization of Surface Composition on Nano-Scale SiCOH Sidewalls 基于模型的XPS技术表征纳米SiCOH侧壁表面成分
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材料科学
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Abhishek Vatsal; Matthias Rudolph; Sebastian Oehler; Varvara Brackmann; Johann W. Bartha 出版日期：2023-11-17 |
| 求助人 |
sheyiness
在
2025-08-30 07:53:08 发布，悬赏 10 积分
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