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 Linear dependence of dislocation pattern size on the imprint width and scratch width on (0001) GaN 相关领域
刮擦
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期刊：Journal of Physics D Applied Physics 作者：Yukari Ishikawa; Yoshihiro Sugawara; Yongzhao Yao; Hidetoshi Takeda; Hideo Aida; et al 出版日期：2022-10-03 |
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