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 Josephson Junction Stuck-At Fault Detection in SFQ Circuits SFQ电路中约瑟夫森结卡死故障的检测
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可靠性（半导体）
计算机科学
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期刊：IEEE Transactions on Applied Superconductivity 作者：Abdelrahman G. Qoutb; S.R. Whiteley; Jamil Kawa; Eby G. Friedman 出版日期：2023-03-22 |
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