| 标题 |
Determination of roughness correlations in multilayer films for x-ray mirrors |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:D. E. Savage; J. Kleiner; N. Schimke; Y.-H. Phang; T. Jankowski; et al 出版日期:1991-02-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)