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 A methodology for curve‐fitting of the XPS Si 2p core level from thin siloxane coatings 薄硅氧烷涂层XPS Si 2 P芯能级曲线拟合方法
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期刊：Surface and Interface Analysis 作者：Lesley‐Ann O'Hare; A. Hynes; Morgan R. Alexander 出版日期：2007-11-14 |
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