Nano-scaled transistor reliability characterization at nano-second regime

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标题	Nano-scaled transistor reliability characterization at nano-second regime 纳秒级晶体管可靠性表征相关领域纳米- 表征（材料科学）可靠性（半导体）材料科学晶体管纳米技术工程类电气工程物理复合材料功率（物理）电压量子力学
网址	https://doi.org/10.1007/s11432-020-3088-3
DOI	10.1007/s11432-020-3088-3 doi
其它	期刊：Science China Information Sciences 作者：Ran Cheng; Ying Sun; Yiming Qu; Wei Liu; Fanyu Liu; et al 出版日期：2021-08-10
求助人	TianYue778 在 2025-08-30 12:18:26 发布，悬赏 10 积分
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