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 Advanced deflectometry methods for industrial application 工业应用中先进的偏光测量方法
相关领域
计算机科学
光学
灵敏度（控制系统）
计算机视觉
镜头（地质）
职位（财务）
人工智能
物理
电子工程
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经济
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期刊： 作者：Heejoo Choi; Hong Je Kang; Yan Huang; M. J. Yoo; Henry Quach; et al 出版日期：2023-10-04 |
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